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Smt 따로 잇기 Aoi 기계, 자동화된 광학적인 검사 기계 1 년 보장

Smt 따로 잇기 Aoi 기계, 자동화된 광학적인 검사 기계 1 년 보장

    • OFFline Smt Aoi Machines , Automated Optical Inspection Machine 1 Year Warranty
    • OFFline Smt Aoi Machines , Automated Optical Inspection Machine 1 Year Warranty
  • OFFline Smt Aoi Machines , Automated Optical Inspection Machine 1 Year Warranty

    제품 상세 정보:

    원래 장소: 중국
    브랜드 이름: Aleader
    인증: CE
    모델 번호: Aleader ALD625

    결제 및 배송 조건:

    최소 주문 수량: 1
    가격: negotiation
    포장 세부 사항: woodenbox
    배달 시간: 5-7 일 일
    지불 조건: 티 / T는, 웨스턴 유니온
    공급 능력: 10pcs/day
    지금 연락
    상세 제품 설명
    상표:: ALEADER 모델: Aleader ALD625
    중량 :: 700kg 리드 타임 :: 황새에서
    포장:: 상자 조건:
    힘: 110V/220 결제 기간: T/T는, Paypal, Westernunion 전부 허용됩니다

     

    Aleader ALD625 SMT 따로 잇기 AOI는 벌점 기능을 가진 다수 표 탐지를 기계로 가공합니다
     
    빠른 세부사항
     

    모듈 하드웨어와 소프트웨어 디자인은, 더 가동 가능하고 및 편리한 사용합니다.
    묻힌 다수 산법, 높은 탐지 비율, 낮은 가양성 비율.
    지적인 고속 디지탈 카메라, 탐지 속도는 2개 고속 헝겊 조각 선의 필요를 충족시킵니다.
    기계설비 구조는 양립하, 모수는 다른 과정을 위해 자동적으로 놓입니다. 1대의 기계는 다수 목적을 위해 사용됩니다.
    자동적인 구조 및 CAD 자료의 자동화하고 수동 프로그래밍 기능은 구성요소 도서관을 찾습니다.
    똑똑한 디지탈 카메라는 자료의 각 조각에 일치하는 자동적으로 바코드를, 읽었습니다.
    다 프로그램과 이중 면 탐지 기술은 자동으로 새로운 형태 탐지 프로그램을 전환합니다.
    벌점 기능을 가진 다수 표 탐지.
    SPC와 AOI 결합한, 적시 의견 정보 및 기술은 빈약합니다.
    첨단 후에와 같은 다양한 신청과 더불어 다 분야 탐지 디자인, 빨간 플라스틱 장, 색깔 반지 저항, 구성요소 지상 탐지.

     

    특징

    제품 이름: SMT AOI 따로 잇기 기계 
    를 위해 사용하는: 전체-제품군 smt 집합 
    보장: 1 년
    선적 공기에 의하여
    배달 시간: 1-2Days
    우리의 주요 시장 세계의 전부

     
     
    신청

    검출된 회로판 , 분배 후에 납땜하는 복각 파 후에 SMT 썰물 오븐 후에, 색깔 반지 저항 구성요소 지상 검사
    검출 방법 TOC 산법, 막대 그래프 산법, 경기 산법, 짧은 산법, 다른 산법, 도가머리 산법, PIN 산법 및 다른 많은 지도 국제적인 산법은 다른 탐지 점에 따라, 체계 자동적으로 그것의 모수를 놓습니다
    사진기 가득 차있 색깔 고속 똑똑한 디지탈 카메라
    해결책/시각 범위/속도 기준: 25μm/Pixel FOV 51mm×51mm 탐지 속도 <200ms>
      선택: 20μm/Pixel FOV: 40mm×40mm 탐지 속도 <180ms>
      선택: 15μm/Pixel FOV: 30mm×30mm 탐지 속도 <160ms>
    광원 밝은 RRGB 동축 반지 탑 LED 광원 (색깔 빛)
    프로그램 형태 수동으로 쓴, 자동 구조, CAD 자료 수입품 자동적으로 대응 구성요소 도서관
    원격 제어 TCP/IP 네트워크, 전망, 시작 또는 정지 기계 조작을 통해 원격 조작은, 프로그램, 등을 변경합니다.
    탐지 적용 유형 분파, 주석, 단락, 오염, 행방불명, 뒤틀림, 묘비, 측 위로, 손상하는, 빈, 주석 지나치게 넣어지는, 극성 올려지는, 회전율, 잘못 두는, 용접하는 나가는 Pinout
    특징 동시에 달리는 자동적인 프로그램 복구를 위한 다수 프로그램, 지원; 0-359° 자전 부속은 검사될 수 있습니다 (단위는 1°입니다)
    최소 부분 테스트 15μm: 01005chip & 0.3pitch IC
    SPC와 순서 관리 시험 자료의 가득 차있는 기록은 및 표본통계량 및 분석, 어떤 지구든지 생산 상태를 전망하골 질 분석은, 엑셀, Txt 및 다른 파일 형식을 출력할 수 있습니다
    바코드 시스템 사진기는 자동적으로 바코드 (1D 또는 제 2 부호), 그리고 MultiMark 기능을 인식하고 전달합니다 (를 포함하여 벌점)
    서버 형태 중앙 서버는 몇몇 AOI 자료의 관리를 집중하기 위하여 사용될 수 있습니다
    운영 체계 Windows 7 전문가
    검사 결과 산출 22 인치 LCD 감시자
    시스템 명세서  
    PCB 크기 범위 (최대) 50×50mm (분) ~430×330mm
    PCB 간격 범위 0.3에서 5개 mm
    체계 가장자리 정리를 죄는 PCB 정상: 3.5 mm 바닥: 3.5 mm
    최대 PCB 무게 3KG
    PCB 곡율 <5mm or="" 2="">
    PCB의 상하에 명확한 고도 위쪽: 50 그리고 60 mm PCB 바닥 측을 가진 선택권 40 mm: 100개 mm
    컨베이어 체계 자동적으로 열고 끌어 넣어진 양측 정착물, 자동적인 보상 PCB 구부리는 개악
    배경의 위 컨베이어 고도 880에서 930 mm
    컨베이어 교류/시간 PCB는 시간을 끄는에서 Y 방향/먹이기 움직입니다: 2 초
    X/Y 플랫폼 운전사 나사와 AC 자동 귀환 제어 장치 모터 드라이브; 고쳐진 PCB, 사진기는 X 방향, CTQ 증명서에 각각에서 움직입니다
    전력 공급 AC230V 50/60 Hz 0.8KVA 보다는 더 적은
    압력 필요로 하지 마십시오
    장비 무게 520KG에 관하여
    장비 차원 900×1070×1490mm (L×W×H)
    환경 온도 및 습도 35°C에 10 35에서 80% RH (응축 없이)
    장비 보안 규정 세륨 안전 표준에 따르십시오

     

    PCB 검사
    초기에 PCB 생산의, 검사는 손으로 검사 및 전기 검사에 의해 주로 실행되었습니다. 전자 기술의 발달으로, 계속 PCB 배선 조밀도는 지속적으로 개량됩니다, 손으로 검사의 어려움은 증가하고, 잘못 판단 비율은 증가했습니다. 건강 손상은 더 중대합니다, 전기 시험 프로그램의 준비는 더 성가십니다, 비용은 더 높, 결점의 특정 유형은 검출될 수 없습니다. 그러므로, AOI 자동적인 광학적인 발견자는 PCB 제조에서 점점 이용됩니다.
    PCB 결점은 과정에 있는 PCB 생산에서 PCB 작은 조각에 (를 포함하여에 에칭, 전기도금을 하고는, 코크 및 작은 구멍) 지도할지도 모르다 단락 (구리에 있는을 포함하여 단락, 얇은 선에 있는 간결, 먼지에 있는 단락 전기도금을 하기에 있는 개방 회로, 구덩이에 있는 단락, 얼룩에 있는 반복적인 단락, 단락, 건조한 영화에 있는 단락, 에 식각에 있는 단락, 에 층에 있는 단락, 및 찰상 단락, 주름 단락, 등), 개방 회로 (를 포함하여 반복적인 개방 회로, 개방 회로를, 진공 청소기로 청소합니다 개방 회로, 열리는 간격, 등을 긁습니다) 및 다른 결점이 거기의 생산에 있는 몇몇 결점 있을지도, 모르다 것과 같이 대체로 분류될 수 있습니다 기질 및 구리 도금, 그러나 주요 결점은 에칭 후에 생성됩니다. AOI는 에칭 과정 후에 일반적으로 검출되고, 그것으로 없는 부분 및 과잉 부분을 찾아내기 위하여 주로 이용됩니다.
    PCB 검사에서는, 많은 이미지 비교 산법이 있고, 제 2 탐지는 주요 방법입니다. 그것은 주로 자료 처리 (입력 자료의 예비 가공, 거르고는, 잔여 구리 그리고 검출될 필요가 없는)를 작은 작은 구멍의 구멍 포함합니다. 측정 종류 (표준 자료를 가진 기록 및 비교의 입력 자료, 특징 부호, 크기 및 위치의 독특한 적출)와 증가하거나 놓치는 특징을 검출하기 위하여 이용되는 지세학 (), 숫자 1는 특징 적출 방법의 개요 도표입니다, (a)는 표준 판 및 검열한 판의 이원 지도이고, (b)는 수학 형태학 분석 후에 특징 지도입니다.
    AOI는 일반적으로 결점의 대부분을 찾아낼 수 있고, 소량의 놓쳐진 탐지 문제가 있습니다. 그러나, 그것의 신뢰성에 영향을 미치는 주요한 문제는 misdetection입니다. PCB 가공 도중 약간 물자의 먼지, 오염 및 빈약한 반사력은 가짜 경보를 일으키는 원인이 될 수 있습니다. 그러므로, 결점을 검출하기 위하여 AOI가 이용된 후에, 수동 검증은 실행되어야 합니다.

    Smt 따로 잇기 Aoi 기계, 자동화된 광학적인 검사 기계 1 년 보장

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    담당자: Lizzy wong

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